MarSurf CM select 马尔3D光学共聚焦测量仪

典型测量任务

·粗糙度测量符合

ISO 4287 & ISO 13565 / ISO 25178

·表面特征轮廓测量（包括体积、磨损、摩擦学）

·轮廓和形状 (2D, 3D)

·孔，颗粒分析

·缺陷检测

根据应用调整的测量解决方案

作为一个多传感器系统，MarSurf CM select 将多种传感器技术结合到了一个测量设备中。也可以根据测量任务选择非常好的点传感器。MarSurf CM select 可以满足您对样品尺寸、自动化、测量舒适度和准确性的个性化要求 - 甚至全自动的测量解决方案。

非常高数据质量

我们非常重要的标准之一，即优异的精度、准确性、可重复性、可再现性和文档记录，可保证可追溯性和可审核性。我们为客户提供的非常高服务就是提供能够可靠地用于工程、产品、工艺设计和质量控制领域的定量测量值等。

技术数据