Waveline W600粗糙度和轮廓测量系统易于作,具有手动高度调节、广泛的安装选项和高测量质量,是接近生产的测量的理想伴侣。
系统特点
通用、易于使用的测量系统
稳定的机械结构带来高测量质量
独特的横移概念,实现测量点的最佳可及性
具有高分辨率的现代触摸式探头
用于探头系统的接口,用于与 TKU400 或 Digiscan 探头系统进行粗糙度或轮廓测量
快速更换适配器 QCA 通过自动探头识别功能,可快速更换探头系统,同时缩短更换探头系统
先进的探头臂技术
带磁力耦合的探头臂,可快速轻松地更换探头臂
所有轮廓探头臂均带有 RFID 芯片,可简化校准和自动配置
由于独特的横移单元概念,可以自由访问测量点
可以稍后扩展测量系统