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HOMMEL ETAMIC Waveline W600 Digiscan 粗糙度轮廓测量

产品介绍

    Waveline W600粗糙度和轮廓测量系统易于作,具有手动高度调节、广泛的安装选项和高测量质量,是接近生产的测量的理想伴侣。


    系统特点

    通用、易于使用的测量系统

    稳定的机械结构带来高测量质量

    独特的横移概念,实现测量点的最佳可及性

    具有高分辨率的现代触摸式探头

    用于探头系统的接口,用于与 TKU400 或 Digiscan 探头系统进行粗糙度或轮廓测量

    快速更换适配器 QCA 通过自动探头识别功能,可快速更换探头系统,同时缩短更换探头系统

    先进的探头臂技术

    带磁力耦合的探头臂,可快速轻松地更换探头臂

    所有轮廓探头臂均带有 RFID 芯片,可简化校准和自动配置

    由于独特的横移单元概念,可以自由访问测量点

    可以稍后扩展测量系统


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