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HOMMEL ETAMIC Waveline W800 粗糙度轮廓仪

产品介绍

    W800 测量系统专为与典型的手动或半自动测量过程相关的粗糙度和轮廓测量任务而开发。这些系统易于作,并得益于高性能的测量和评估软件 Evovis,可提供多种分析。其结果是在最短的时间内达到最高标准的测量精度。


    快速更换适配器使探头系统无需使用任何工具即可更换。探头臂和探头系统配有磁力耦合器,使探头臂的更换变得简单快捷。这意味着您可以采取灵活的方法来满足所有测量要求。


    该系统通过 RFID 识别自动检测智能轮廓探头臂,并调整最佳测量条件,从而实际消除作错误和错误测量。


    系统特点

    通用、易于使用的测量系统

    现代化的高分辨率探头系统

    稳定的机械结构带来高测量质量

    先进的探头臂技术

    独特的横移单元概念,可实现对测量位置的最佳访问

    带磁力耦合的探头臂,可快速轻松地更换探头臂

    所有轮廓探头臂均配备 RFID 芯片,可简化校准和自动配置

    快速更换适配器 QCA 可实现快速测头系统转换,并缩短更换工具时间和自动配置功能

    探头系统的水平运动通过横移单元外壳发生,这意味着探头臂始终位于横移单元的前面

    控制面板可轻松、直接地作最重要的测量和控制功能,以及紧急停止功能,可在中断的轴位置重新启动


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